admin
18/07/2010, 11h29
La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie électronique (http://fr.wikipedia.org/wiki/Microscope_%C3%A9lectronique) basée sur le principe des interactions électrons-matière (http://fr.wikipedia.org/wiki/Interaction_rayonnement-mati%C3%A8re), capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon.
http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/9/95/JEOL_JSM-6340F.jpg/220px-JEOL_JSM-6340F.jpg (http://fr.wikipedia.org/wiki/Fichier:JEOL_JSM-6340F.jpg) http://bits.wikimedia.org/skins-1.5/common/images/magnify-clip.png (http://fr.wikipedia.org/wiki/Fichier:JEOL_JSM-6340F.jpg)
Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F
Basé sur les travaux de Max Knoll (http://fr.wikipedia.org/wiki/Max_Knoll) et Manfred von Ardenne (http://fr.wikipedia.org/wiki/Manfred_von_Ardenne) dans les années 1930 (http://fr.wikipedia.org/wiki/Ann%C3%A9es_1930), le principe du MEB consiste en un faisceau d’électrons (http://fr.wikipedia.org/wiki/%C3%89lectron) balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules (http://fr.wikipedia.org/wiki/Physique_des_particules). Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image en trois dimensions de la surface.
Les travaux menés au laboratoire de Charles Oatley (http://fr.wikipedia.org/wiki/Charles_William_Oatley) dans les années 1960 (http://fr.wikipedia.org/wiki/Ann%C3%A9es_1960) à l’université de Cambridge (http://fr.wikipedia.org/wiki/Universit%C3%A9_de_Cambridge) ont grandement contribué au développement des MEB et ont conduit en 1965 (http://fr.wikipedia.org/wiki/1965) à la première commercialisation par Cambridge Instrument Co.[1] (http://fr.wikipedia.org/wiki/Microscopie_%C3%A9lectronique_%C3%A0_balayage#cite _note-0) Aujourd’hui, la microscopie électronique à balayage est utilisée dans des domaines allant de la biologie (http://fr.wikipedia.org/wiki/Biologie) aux sciences des matériaux (http://fr.wikipedia.org/wiki/Sciences_des_mat%C3%A9riaux)nanomètre (http://fr.wikipedia.org/wiki/M%C3%A8tre#Description_de_multiples)[2] (http://fr.wikipedia.org/wiki/Microscopie_%C3%A9lectronique_%C3%A0_balayage#cite _note-LabTechnologist-1) et 20 nanomètres. et un grand nombre de constructeurs proposent des appareils de série équipés de détecteurs d’électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 0,4.
http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/9/95/JEOL_JSM-6340F.jpg/220px-JEOL_JSM-6340F.jpg (http://fr.wikipedia.org/wiki/Fichier:JEOL_JSM-6340F.jpg) http://bits.wikimedia.org/skins-1.5/common/images/magnify-clip.png (http://fr.wikipedia.org/wiki/Fichier:JEOL_JSM-6340F.jpg)
Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F
Basé sur les travaux de Max Knoll (http://fr.wikipedia.org/wiki/Max_Knoll) et Manfred von Ardenne (http://fr.wikipedia.org/wiki/Manfred_von_Ardenne) dans les années 1930 (http://fr.wikipedia.org/wiki/Ann%C3%A9es_1930), le principe du MEB consiste en un faisceau d’électrons (http://fr.wikipedia.org/wiki/%C3%89lectron) balayant la surface de l’échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certaines particules (http://fr.wikipedia.org/wiki/Physique_des_particules). Ces particules sont analysées par différents détecteurs qui permettent de reconstruire une image en trois dimensions de la surface.
Les travaux menés au laboratoire de Charles Oatley (http://fr.wikipedia.org/wiki/Charles_William_Oatley) dans les années 1960 (http://fr.wikipedia.org/wiki/Ann%C3%A9es_1960) à l’université de Cambridge (http://fr.wikipedia.org/wiki/Universit%C3%A9_de_Cambridge) ont grandement contribué au développement des MEB et ont conduit en 1965 (http://fr.wikipedia.org/wiki/1965) à la première commercialisation par Cambridge Instrument Co.[1] (http://fr.wikipedia.org/wiki/Microscopie_%C3%A9lectronique_%C3%A0_balayage#cite _note-0) Aujourd’hui, la microscopie électronique à balayage est utilisée dans des domaines allant de la biologie (http://fr.wikipedia.org/wiki/Biologie) aux sciences des matériaux (http://fr.wikipedia.org/wiki/Sciences_des_mat%C3%A9riaux)nanomètre (http://fr.wikipedia.org/wiki/M%C3%A8tre#Description_de_multiples)[2] (http://fr.wikipedia.org/wiki/Microscopie_%C3%A9lectronique_%C3%A0_balayage#cite _note-LabTechnologist-1) et 20 nanomètres. et un grand nombre de constructeurs proposent des appareils de série équipés de détecteurs d’électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 0,4.